螺母鍍層測厚儀 thick800a 天瑞儀器價格

標準配置

開放式樣品腔。
精密二(er)維移動樣品平臺，探(tan)測器和X光管上下(xia)可動，實現三維移動。
雙激光(guang)定位(wei)裝(zhuang)置。
鉛玻(bo)璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號(hao)檢測電子(zi)電路(lu)。
高低(di)壓電源。
X光管。
高(gao)度傳感器
保護傳感器
計算機(ji)及噴(pen)墨打印(yin)機(ji)

技術指標

型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同(tong)時可以(yi)分析30種以(yi)上元(yuan)素，五(wu)層(ceng)鍍層(ceng)。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般(ban)在(zai)50μm以內（每種材料有(you)所不同）
任意多個可選擇的分(fen)析和識別模型。
相互獨立的基體(ti)效應(ying)校正模型(xing)。
多變量非線性回收程序
度適(shi)應范圍為15℃至30℃。
電(dian)源: 交流(liu)220V±5V, 建議配置交流(liu)凈化穩壓電(dian)源。
外觀尺(chi)寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量(liang)：90kg

五金鍍(du)層測量(liang)已成為(wei)加工工業、表面工程質量(liang)檢測的重(zhong)要(yao)環(huan)節，是產(chan)品達到優等(deng)質量(liang)標準的必要(yao)手段。為(wei)使產(chan)品化，我(wo)國出口商品和涉(she)外項目中，對鍍(du)層厚度有了(le)明確要(yao)求。

螺(luo)母(mu)就是螺(luo)帽，與螺(luo)栓或螺(luo)桿擰(ning)在一起用(yong)來起緊固作用(yong)的零(ling)件(jian)，所有生(sheng)產(chan)制造(zao)機械必須用(yong)的一種元件(jian)根據材質的不同，分為碳鋼、不銹鋼、有色金屬（如(ru)銅）等(deng)幾(ji)大類(lei)型

    鍍層厚度的測(ce)量(liang)方(fang)法(fa)(fa)主要有：楔(xie)切法(fa)(fa)，光(guang)截(jie)法(fa)(fa)，電(dian)解法(fa)(fa)，厚度差測(ce)量(liang)法(fa)(fa)，稱重法(fa)(fa)，X射線(xian)熒(ying)光(guang)法(fa)(fa)，β射線(xian)反(fan)向散射法(fa)(fa)，電(dian)容法(fa)(fa)、磁性測(ce)量(liang)法(fa)(fa)及渦流(liu)測(ce)量(liang)法(fa)(fa)等(deng)等(deng)。這(zhe)些方(fang)法(fa)(fa)中前五(wu)種是有損檢測(ce)，測(ce)量(liang)手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣(yang)檢驗。

    天瑞儀(yi)器螺母鍍(du)層測厚儀(yi)是(shi)將(jiang)X射(she)(she)線(xian)照(zhao)射(she)(she)在樣(yang)品(pin)(pin)上，通過從樣(yang)品(pin)(pin)上反(fan)射(she)(she)出來的(de)(de)(de)第(di)二(er)次(ci)X射(she)(she)線(xian)的(de)(de)(de)強度來。測量鍍(du)層等金屬薄(bo)膜的(de)(de)(de)厚度，因(yin)為沒(mei)有接觸到(dao)樣(yang)品(pin)(pin)且照(zhao)射(she)(she)在樣(yang)品(pin)(pin)上的(de)(de)(de)X射(she)(she)線(xian)只有45-75W左右，所(suo)以不會(hui)對樣(yang)品(pin)(pin)造成(cheng)損壞。同時(shi)，測量的(de)(de)(de)也可以在10秒(miao)到(dao)幾分鐘內(nei)完(wan)成(cheng)。

螺母鍍層測厚儀測量值精(jing)度(du)的(de)影響因素(su)
    1．影響因素的有關說明
    a 基體金屬(shu)磁性質
    磁性法測厚受基體(ti)金屬磁性變(bian)(bian)化的(de)影(ying)響(xiang)（在實(shi)際應(ying)用(yong)中，低碳鋼磁性的(de)變(bian)(bian)化可(ke)以認為(wei)是輕微的(de)），為(wei)了避免熱處理(li)和冷加工因素(su)的(de)影(ying)響(xiang)，應(ying)使用(yong)與試(shi)件基體(ti)金屬具有相同性質的(de)標準(zhun)(zhun)片對儀(yi)器進行校準(zhun)(zhun)；亦可(ke)用(yong)待涂覆(fu)試(shi)件進行校準(zhun)(zhun)。
    b 基體金屬電性質
    基體(ti)金(jin)(jin)屬的電導率對(dui)測量有(you)影響，而基體(ti)金(jin)(jin)屬的電導率與其材(cai)料成分及熱處理方法有(you)關。使用(yong)與試(shi)件(jian)基體(ti)金(jin)(jin)屬具有(you)相(xiang)同性質(zhi)的標準片對(dui)儀器進行校準。
    c 基體金屬厚(hou)度
   ; 每(mei)一(yi)(yi)種儀器(qi)都有一(yi)(yi)個基體(ti)金屬的(de)臨界厚度。大于這個厚度，測(ce)量就不(bu)受(shou)基體(ti)金屬厚度的(de)影(ying)響。本儀器(qi)的(de)臨界厚度值見附表1。
    d 邊緣效應(ying)
    本儀(yi)器對試件(jian)表面(mian)形狀的(de)陡變敏感。因(yin)此在靠近試件(jian)邊緣或(huo)內轉角處進行測量是不可(ke)靠的(de)。
    e 曲率(lv)
    試件(jian)的(de)(de)曲(qu)率對測(ce)量有影響。這種影響總是(shi)隨著曲(qu)率半徑的(de)(de)減(jian)少明顯(xian)地增大。因(yin)此，在(zai)彎(wan)曲(qu)試件(jian)的(de)(de)表面上(shang)測(ce)量是(shi)不可(ke)靠的(de)(de)。
    f 試(shi)件(jian)的變(bian)形
    測頭會使軟(ruan)覆蓋層試(shi)(shi)件(jian)變形，因此(ci)在這些試(shi)(shi)件(jian)上測出可靠的數據。
    g 表面(mian)粗糙(cao)度(du)
    基體金屬(shu)(shu)和(he)覆(fu)(fu)蓋層的(de)表面(mian)(mian)粗(cu)糙程度對測量(liang)(liang)有影(ying)響。粗(cu)糙程度增大(da)，影(ying)響增大(da)。粗(cu)糙表面(mian)(mian)會(hui)引起系統(tong)誤差和(he)偶(ou)然(ran)誤差，每次(ci)測量(liang)(liang)時，在不同位(wei)置上(shang)應增加測量(liang)(liang)的(de)次(ci)數，以克服這種偶(ou)然(ran)誤差。如果基體金屬(shu)(shu)粗(cu)糙，還必須在未涂覆(fu)(fu)的(de)粗(cu)糙度相類似的(de)基體金屬(shu)(shu)試件上(shang)取(qu)幾個位(wei)置校(xiao)對儀(yi)器的(de)零點；或用對基體金屬(shu)(shu)沒有腐蝕的(de)溶液溶解除去覆(fu)(fu)蓋層后，再校(xiao)對儀(yi)器的(de)零點。
    g 磁場(chang)
    周圍各種電氣設備所產生的強磁(ci)場，會嚴重地干(gan)擾磁(ci)性(xing)法測厚工(gong)作。
    h 附(fu)著(zhu)物質
    本儀(yi)器對那些妨(fang)礙(ai)測(ce)(ce)頭(tou)與覆蓋層表(biao)面緊密接(jie)觸(chu)的附(fu)著(zhu)物(wu)質(zhi)敏(min)感，因此，必須清除附(fu)著(zhu)物(wu)質(zhi)，以保(bao)證儀(yi)器測(ce)(ce)頭(tou)和被測(ce)(ce)試(shi)件表(biao)面直接(jie)接(jie)觸(chu)。
    i 測(ce)頭壓力
    測(ce)(ce)頭置于試件上(shang)所施加的壓力大小會(hui)影響測(ce)(ce)量的讀數，因此，要(yao)保持壓力恒定(ding)。
    j 測頭的取向(xiang)
    測(ce)頭(tou)(tou)的放置方(fang)式對(dui)測(ce)量(liang)有影響。在測(ce)量(liang)中(zhong)，應當(dang)使測(ce)頭(tou)(tou)與試樣表面保持(chi)垂直(zhi)。
    2．使用儀(yi)器(qi)時應(ying)當遵守的規定
    a 基體金(jin)屬特性
    對于(yu)磁(ci)性方法(fa)，標準片的(de)基(ji)體金(jin)(jin)屬的(de)磁(ci)性和(he)表(biao)面(mian)粗(cu)糙度(du)，應當與(yu)試件基(ji)體金(jin)(jin)屬的(de)磁(ci)性和(he)表(biao)面(mian)粗(cu)糙度(du)相似。
    對于(yu)渦流(liu)方法，標準片基體金(jin)屬(shu)的(de)電性(xing)質，應(ying)當與試件基體金(jin)屬(shu)的(de)電性(xing)質相似。
    b 基體金屬厚度
    檢查基體金屬厚度是(shi)否超過臨界(jie)厚度，如果(guo)沒有，可采用3.3中(zhong)的某(mou)種方法進(jin)行校準。
    c 邊緣(yuan)效應(ying)
    不應在(zai)緊靠試件(jian)的(de)突變處(chu)，如邊緣(yuan)、洞(dong)和(he)內轉(zhuan)角(jiao)等處(chu)進行測量(liang)。
    d 曲(qu)率
    不(bu)應在(zai)試件的(de)彎曲表面上測量。
    e 讀(du)數(shu)次數(shu)
    通常(chang)由于(yu)儀(yi)器的每(mei)次讀數(shu)并不*相(xiang)同(tong)，因此必須在(zai)每(mei)一測量面(mian)(mian)積(ji)內(nei)取幾個讀數(shu)。覆(fu)蓋層厚度(du)的局部差異(yi)，也(ye)要(yao)求在(zai)任一給定的面(mian)(mian)積(ji)內(nei)進行多(duo)次測量，表面(mian)(mian)粗造時(shi)更應如此。
    f 表面清潔(jie)度(du)
    測量前，應清除表面上的(de)任何附(fu)著物質，如塵土、油脂(zhi)及腐(fu)蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質

螺母鍍層測厚儀 thick800a 天瑞儀器價格廠(chang)家(jia)介紹(shao)

天(tian)瑞儀(yi)(yi)器(qi)成立于1992 年，以(yi)研究、生產、銷售(shou)X 熒光光譜(pu)分析儀(yi)(yi)起步，目(mu)前從事以(yi)光譜(pu)儀(yi)(yi)、色譜(pu)儀(yi)(yi)、質譜(pu)儀(yi)(yi)為主的(de)(de)分析儀(yi)(yi)器(qi)及應(ying)用(yong)軟件(jian)的(de)(de)研發、生產、銷售(shou)和相(xiang)關技術服(fu)務，是(shi)國內在創業板上市(shi)的(de)(de)分析儀(yi)(yi)器(qi)企業。公司產品(pin)主要應(ying)用(yong)于環(huan)境保護與(yu)安全（空(kong)氣、土(tu)壤、水質污染檢測等）、礦產與(yu)資源（地質、采礦）、商品(pin)檢驗甚(shen)至人體微量元素(su)的(de)(de)檢驗等眾多領域。

江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業生產ROHS測試儀，液相色譜質譜儀（LCMS）,原子熒光光譜儀，x射線測厚儀，手持式ROHS光譜儀，ROHS檢測設備，X射線鍍層測厚儀，氣相色譜儀，EDX1800B,ROHS檢測儀，首先ROHS檢測儀(yi)廠家，ICP光譜分析儀，液相色譜儀，EDX1800E,ROHS2.0新增4項分析儀，EDX2800,手持式礦石分析儀，雙酚A檢測儀，X射線熒光光譜儀，大米重金屬快速檢測儀，汽油中硅含量檢測儀，ROHS2.0檢測儀，EDX1800BH,電感耦合等離子體光譜儀，ICP等離子光譜儀，EDX1800BS,氣相色譜質譜聯用儀（GCMS）,EDX1800, ROHS儀器，手持式合金(jin)分(fen)析儀(yi)等分析儀器，涉及的儀器設備主要有Thick 8000、Thick800A、EDX600、AAS 9000、AAS 8000等。

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