更(geng)新時間(jian):2019-04-13
電鍍層(ceng)厚(hou)度Thick800a測量儀(yi)專門研發用(yong)于鍍層(ceng)行(xing)業(ye)的(de)一(yi)款儀(yi)器(qi),可(ke)(ke)全自動軟件操(cao)作(zuo),可(ke)(ke)多點測試,由(you)軟件控制儀(yi)器(qi)的(de)測試點,以及(ji)移(yi)動平臺。是一(yi)款功能強(qiang)大的(de)儀(yi)器(qi),配上專門為其開發的(de)軟件,在鍍層(ceng)行(xing)業(ye)中(zhong)可(ke)(ke)謂大展(zhan)身手(shou)。
電鍍層(ceng)厚(hou)度測(ce)厚(hou)儀根據測(ce)量(liang)原(yuan)理一般(ban)有以下五種類型:
1)磁(ci)(ci)性測厚法(fa):適用導(dao)磁(ci)(ci)材料上的非導(dao)磁(ci)(ci)層(ceng)厚度(du)(du)測量.導(dao)磁(ci)(ci)材料一般(ban)為:鋼鐵(tie)銀鎳.此種方法(fa)測量精度(du)(du)高,FT220涂層(ceng)測厚儀
2)渦流測(ce)厚(hou)法:適用導(dao)電金屬上(shang)的非導(dao)電層厚(hou)度測(ce)量(liang).此種方(fang)法較磁(ci)性測(ce)厚(hou)法精度高,NT230涂層測(ce)厚(hou)儀。
3)超(chao)聲波測(ce)(ce)(ce)(ce)厚(hou)法:目前國(guo)內(nei)還沒有用(yong)此(ci)種方法測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)涂鍍(du)層厚(hou)度的(de),國(guo)外個別廠家有這樣(yang)的(de)儀(yi)器,適用(yong)多(duo)層涂鍍(du)層厚(hou)度的(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)或則是以上(shang)兩種方法都無法測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)的(de)場合.但一般價(jia)格昂貴,測(ce)(ce)(ce)(ce)量(liang)精度也不(bu)高.
4)電解測厚法:此方法有別于以上三種(zhong),不(bu)屬于無損檢測,需(xu)要破壞涂鍍(du)層(ceng).一般精(jing)度也不(bu)高(gao).測量起來較(jiao)其他(ta)幾(ji)種(zhong)麻煩
5)X射線測(ce)厚(hou)法:此種儀器(qi)價格非常昂貴(一般(ban)在十幾萬RMB以上),適用于一些特殊場合.
性能特點
1、上(shang)照式
2、測試組(zu)件可(ke)升降
3、高(gao)精度移動平臺
4、小(xiao)準直(zhi)器(qi)
5、高分辨率探頭(tou)
6、可視化操作
7、自動定位(wei)高度
8、自動尋找光(guang)斑
9、鼠標定位測試(shi)點
10、良(liang)好的射線屏蔽
11、超大樣品腔設計
12、測試口安全防(fang)護
電鍍層厚度Thick800a測量儀性能(neng)特點(dian)
滿足各種不同厚度(du)樣品(pin)以及(ji)不規則表面樣品(pin)的測試(shi)需求
φ0.1mm的小孔準直器(qi)可以滿足(zu)微小測試(shi)點的需求
高精(jing)(jing)度移動平臺可定(ding)(ding)位測試(shi)點,重復(fu)定(ding)(ding)位精(jing)(jing)度小于0.005mm
采(cai)用高度定位激光,可自動定位測試(shi)高度
定位激(ji)光確定定位光斑,確保測試點與(yu)光斑對齊(qi)
鼠(shu)標可控制移動平臺,鼠(shu)標點擊的位置(zhi)就是被(bei)測點
高分辨率探頭使分析結(jie)果更加精準(zhun)
良好的射線屏(ping)蔽作用(yong)
測試(shi)口高度敏感性傳感器保護(hu)
電鍍層厚度Thick800a測量儀技術指標
型號:Thick 800A
元素分析范(fan)圍(wei)從硫(S)到鈾(you)(U)。
同時可以(yi)分析30種以(yi)上(shang)元(yuan)素,五層(ceng)鍍層(ceng)。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚(hou)度一(yi)般在50μm以內(nei)(每種材(cai)料有(you)所不同)
任意多個可(ke)選擇(ze)的分析和識別模(mo)型。
相互獨立的(de)基體效應(ying)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍(wei)為15℃至30℃。
電源(yuan): 交流(liu)220V±5V, 建議(yi)配置(zhi)交流(liu)凈化穩壓(ya)電源(yuan)。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣(yang)品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重(zhong)量:90kg
標準配置
開放(fang)式(shi)樣品腔(qiang)。
精密二維移動(dong)樣品平臺,探測(ce)器(qi)和X光管上下可(ke)動(dong),實現(xian)三維移動(dong)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩(zhao)。
Si-Pin探測器(qi)。
信號檢測電子電路。
高低壓電(dian)源。
X光管。
高度(du)傳感器(qi)
保護傳感(gan)器(qi)
計算(suan)機(ji)及(ji)噴墨打印機(ji)
應用領域
黃金,鉑,銀等(deng)貴金屬(shu)和(he)各(ge)種首飾的含量(liang)檢測.
金屬鍍(du)層的厚度測量, 電鍍(du)液和鍍(du)層含(han)量的測定。
主(zhu)要(yao)用于貴金屬加工和首飾(shi)加工行業;銀(yin)行,首飾(shi)銷售(shou)和檢(jian)測(ce)機(ji)構;電鍍(du)行業。