X-RAY熒光光譜儀屬(shu)于*的(de)(de)分析檢(jian)測儀(yi)(yi)器，隨著半導體(ti)微電(dian)子(zi)技(ji)(ji)術和(he)計(ji)算機(ji)技(ji)(ji)術的(de)(de)飛速(su)發展(zhan)，傳統的(de)(de)光(guang)學(xue)、熱學(xue)、電(dian)化學(xue)、色譜(pu)、波(bo)譜(pu)類分析技(ji)(ji)術都已從經典的(de)(de)化學(xue)精密機(ji)械電(dian)子(zi)學(xue)結(jie)構(gou)、實驗室內(nei)人工操作應用模式，轉化成(cheng)(cheng)光(guang)、機(ji)、電(dian)、算（計(ji)算機(ji)）一體(ti)化、自(zi)動化的(de)(de)結(jie)構(gou)，并向智能(neng)化、小型(xing)化、在線(xian)式及儀(yi)(yi)器聯用方(fang)向發展(zhan)。天瑞(rui)公司在以已掌握(wo)的(de)(de)成(cheng)(cheng)熟的(de)(de)臺式X熒光(guang)光(guang)譜(pu)儀(yi)(yi)技(ji)(ji)術為基礎，結(jie)合國(guo)外相(xiang)關新的(de)(de)技(ji)(ji)術發展(zhan)成(cheng)(cheng)果，研制出(chu)具有自(zi)主知識(shi)產權的(de)(de)EDX 3600K型(xing)X熒光(guang)光(guang)譜(pu)儀(yi)(yi)。

X-RAY熒光光譜儀應用領域

專為粉未冶煉行業研發的一款設備，主要應用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業、石油勘探錄井分析領域。
同時在地質、礦樣、冶金、稀土材料、環境監測、有色金屬、食品、農業等科研院所、大專院校和工礦企業中也得到廣泛應用。

性能優勢

1.超低能量分辨率，輕元素檢測效果更佳
使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器，探測器分辨率達到139eV，各項指標優于國家標準。SDD探測器具有良好的能量線
性、良好的能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。

2. 測試精度更高，檢出限更低
①專業化的樣品腔設計，帶可調速的自旋樣品腔，能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響，提高樣品的測試精度。
②采用超小超真空的樣品腔設計，保證測試時達到10Pa以下，使設備的測試范圍可從F元素起測試，大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和精度。

3. 分析速度更快，從第1秒即可得到定性定量結果
采用自主研發的數字多道技術，其線性計數率可達100kcps，可以更加快速的分析，從第1秒就可以得出定性定量結果，
設計成高計數率，大大提高了設備的穩定性。

4. 一鍵式智能化操作
專業軟件，*的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作，使操作簡易，對操作人員限制小的特點。

5. 強大的自動化功能
①自動化程度高，具有自動開蓋、自動切換準直器與濾光片等功能。
②采用自動穩譜裝置，保證了儀器工作的*性：利用解譜技術使譜峰分解，采用多參數的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。

6. 強度校正法
具有多種測試模式設置和無限數目模式的自由添加，內置強度校正方法，可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。

7. 完善的光路系統
自主研發的光路系統，光程更短，光路損失更少，激發效果更佳。

8. 三重安全防護功能
三重安全防護功能，自動感應，沒有樣品時儀器不工作，無射線泄漏；加厚防護測試壁；配送測試防護安全罩。

9. 安全提醒系統
警(jing)告(gao)指示系統，通電時綠色(se)指示燈(deng)亮(liang)，測試時黃色(se)輻(fu)射指示燈(deng)閃(shan)爍，防止誤操(cao)作。

定性與定量分析

（一）、定性分析
定性分析是X熒光光譜分析的基礎，因為只有從儀器獲得的譜圖中辨認峰譜，才能知道待測試樣中還有那些元素，并且分析待測元素的主要譜線，以及常見的干擾譜線，以便選擇合適的測量譜線，用于定量分析方法，確定譜線的重疊校正方法，選擇校正元素，終達到準確測試樣品的效果。
定性分析的方法：
1、 判斷儀器的能量刻度是否正確，可以用已知元素的樣品進行測試，觀察是否能夠正確識別樣品中的元素。如果不正確，需要重新建立能量刻度。
2、 首先判斷X光管靶材的特征峰位。其峰位處的峰譜，可能不是樣品所含有的元素。
3、 分辨元素峰譜的K線和L線，一般情況下，52＃（Te，碲）元素以前的元素，大多測試其K線，但35＃～52#之間的元素，其L線也可以被檢測出來，同時它的L線會對輕元素測量產生影響。52＃以后的元素一般測試其L線。
4、 K線一般有K線必然有K線，線的強度比例在5:1左右，L線必然有L、L…等4條線，在判斷是否是某元素時必須考慮這一因素。
5、 觀察各個線之間的干擾，找到干擾的元素線系，并確定重疊干擾線之間的影響程度。
 
（二）、定量分析
X熒光的定量分析可以簡化為以下公式，它受四種因素影響：
 Ci＝KiIiMiSi
式中：C為待測元素的濃度，下標I式待測元素；K為儀器的校正因子；I式測得的待測元素X射線熒光強度，經過背景、譜重疊和死時間校正后，獲得的純強度。M式元素間的吸收和增強效應校正。S與樣品的物理形態有關，如試樣的均勻性、厚度、表面結果等，要通過制樣來消除。
根據以上的簡化公式，可以將定量分析的方法分為以下幾個步驟：
①     根據樣品的物理形態和對分析精度與準確度要求，決定采用何種的制樣方法。確定了制樣方法后，應了解制樣的誤差主要因素，應該在方法中加以注意。
②     用標準樣品確定的分析條件，如：X射線管的管壓，管流，原級譜濾光片，測量時間等。
③     確定強度的提取方法。
④     制作工作曲線。
⑤     用標準樣品驗證分(fen)析(xi)方法的(de)可靠性及(ji)分(fen)析(xi)數據的(de)不(bu)確定(ding)度。